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快速退火炉系列
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教学设备系列
自立式6吋快速退火炉(RTP-3-06系列)
自立式6吋快速退火炉(RTP-3-06系列)
RTP-3-06系列自立式6吋快速退火炉采用红外辐射加热技术，可实现大尺寸样品(6英寸)快速升温和降温，可用于快速热处理(RTP)、快速热退火(RTA)、快速热氧化(RTO)、快速热氮化(RTN)及金属合金化等半导体工艺。
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桌面式4吋快速退火炉(RTP-3-04系列)
桌面式4吋快速退火炉(RTP-3-04系列)
快速退火炉RTP-3-04系列采用红外辐射加热技术，可实现大尺寸样品（4英寸样品）快速升温和降温，同时搭配超高精度温度控制系统，可达到极佳的温场均匀性，对材料的快速热处理(RTP)、快速退火(RTA)、快速热氧化(RTO)、快速热氮化(RTN)及金属合金化等研究和生产工作起到重要作用。
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桌面式1吋快速退火炉(RTP-3-01系列)
桌面式1吋快速退火炉(RTP-3-01系列)
快速退火炉RTP-3-01系列采用红外辐射加热技术，可实现1吋(选配2吋)样品快速升温和降温，同时搭配超高精度温度控制系统，可达到极佳的温场均匀性，对材料的快速热处理(RTP)、快速退火(RTA)、快速热氮化(RTN)、快速热氧化(RTO)及金属合金化等研究和生产起到重要作用。
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自立式8吋快速退火炉(RTP-3-08系列)
自立式8吋快速退火炉(RTP-3-08系列)
RTP-3-08系列自立式8吋快速退火炉采用红外辐射加热技术，可实现大尺寸样品(8英寸)快速升温和降温，可用于快速热处理(RTP)、快速热退火(RTA)、快速热氧化(RTO)、快速热氮化(RTN)及金属合金化等半导体工艺。
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霍尔效应测试系统(HET-3RT)
霍尔效应测试系统(HET-3RT)
霍尔效应测试系统（霍尔效应测试仪）HET-3RT依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、方阻等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型↦P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。
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薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
薄膜热电参数测试系统MRS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
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热电参数测试系统(Namicro-3)
热电参数测试系统(Namicro-3)
热电参数测试系统Namicro-3采用动态法(具有专利技术-专利号：ZL201811242049.2发明专利)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。Namicro-3主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
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便携式热电参数测试仪(PTM-5)
便携式热电参数测试仪(PTM-5)
便携式热电参数测试仪PTM-5可用于快速测试薄膜、块体、纤维等不同形态热电材料的Seebeck系数和电导率，为热电材料的科学研究及产业效率的提升提供更专业、便携的新选择。
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薄膜热导率测试系统(TCT-3RT)
薄膜热导率测试系统(TCT-3RT)
薄膜热导率测试系统TCT-3RT采用3ω测试方法，利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。可验证薄膜材料在室温条件下的热导率性能差异。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率测量，可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发，其涵盖范围包括集成电路散热材料、航空航天材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件等。
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光功率热分析仪(OPA-3)
光功率热分析仪(OPA-3)
光功率热分析仪是世界首台纳米级薄膜材料物性分析仪，填补了国际对纳米级薄膜材料无损检测其相变温度和热膨胀系数的技术空白！不仅可用于检测块体，还可检测低至1nm的薄膜材料。根据材料相变前后光学性质（反射光功率）有较大差异的特性检测材料的相变温度，依据光干涉原理检测透光材料的热膨胀系数，融合了相变温度分析仪和热膨胀系数分析仪的两项功能。
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热膨胀系数分析仪(TEA-3)
热膨胀系数分析仪(TEA-3)
热膨胀系数分析仪采用创新的光干涉原理专利技术（专利号：ZL201410421128.5），可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
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相变温度分析仪(PCA-3)
相变温度分析仪(PCA-3)
相变温度分析仪采用具有专利技术的光学系统检测原理，PCA不仅可以检测多种块体材料，还可以检测各种薄膜样品。可以进行多项相变理论的实验研究，如：薄膜材料相变的尺寸效应、结晶动力学、薄膜软化、溶化温度等。
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关于jinnian金年会

ABOUT US

　　jinnian金年会成立于2009年，是以薄膜物性测量仪器作为战略定位，技术自主创新的高新技术企业。公司集研发、市场和技术服务于一体， 且相继被评 为湖北省“百人计划 ”及武汉市政府“城市合伙人 ”企业。公司成立于 2009 年， 总部位于中国·光谷， 专注于薄膜材料物理性能测量仪器的自主研发···

案例展示

PRODUCT CATEGORY

材料热分析、材料样品制备与加工、材料电磁分析、材料力学分析、材料光学分析

江苏大学1吋快速退火炉RTP-3S01实验

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江苏大学1吋快速退火炉RTP-3S01升温1200℃时软件录屏 

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4吋快速退火炉RTP-3S04升温实验

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1吋RTP-3S01快速退火炉实验升温曲线图

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清华大学1吋快速退火炉RTP-3S01系列升温曲线图 

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4吋快速退火炉RTP-3S04升温实验曲线图

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薄膜变温电阻测试仪TRT-3

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大连理工大学使用嘉仪通薄膜变温电阻测试仪TRT-3测试CuNiFe样品电阻率随温度变化结果 ···

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霍尔效应测试系统HET-3

霍尔效应测试系统HET-3

山东大学使用嘉仪通霍尔效应测试系统HET-3测试钛酸锶样品的电阻率、霍尔系数、载流子浓度、迁移率数据···

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薄膜热导测试系统TCT-3

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中科院上海微系统所购买嘉仪通薄膜热导测试系统TCT-3，测试SiO2薄膜样品热导数据  ···

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薄膜热电参数测试系统MRS-3

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中科院化学所购买嘉仪通薄膜热电参数测试系统MRS-3，测试导电高分子薄膜样品Seebeck系数和电阻···

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热电参数测试系统Namicro-3

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太原理工购买嘉仪通热电参数测试系统Namicro-3L，测试MgSi样品Seebeck系数和电阻率数···

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相变温度分析仪PCA-3

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成都理工购买嘉仪通相变温度分析仪PCA-3，测试HfO2薄膜的相变温度 相变温度分析仪PC···

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jinnian金年会8吋快速退火炉 成都理工大学顺利验收
jinnian金年会RTP-3S01快速退火炉 华中科技大学顺利验收
深圳大学
清华大学
成都理工大学
吉林大学
武汉理工大学
中国地质大学和武汉嘉仪通展开合作
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2024年全国大学生物理实验竞赛研讨会嘉仪通展示创新物理实验仪器

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